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電池保護電路和工作原理

鋰離子電池組電路具有過充電保護過放電保護過電流保護短路保護功能,其工作原理分析如下:

1、正常(chang)狀態(tai)

在正常狀態下電路中N1的“CO"與“DO"腳都輸出高電壓,兩個MOSFET都處于導通狀態,電池可以自由地進行充電放電,由于MOSFET的導通阻抗很小,通常小于30毫歐,因此其導通電阻對電路的性能影響很小。 7|此狀態下保護電路的消耗電流為μA級,通常小于7μA。

2、過充電(dian)保(bao)護(hu)

鋰離子電池要求充電器充電方式為恒流/恒壓,在充電初期,為恒流充電,隨著充電過程,電壓會上升到4.2V(根據正極材料不同,有的電池要求恒壓值為4.1V),轉為恒壓充電,直至電流越來越小。 電池在被充電過程中,如果充電器電路失去控制,會使電池電壓超過4.2V后繼續恒流充電,此時電池電壓仍會繼續上升,當電池電壓被充電至超過4.3V時,電池的化學副反應將加劇,會導致電池損壞或出現安全問題。

在帶有保護電路的電池中,當控制IC檢測到電池電壓達到4.28V(該值由控制IC決定,不同的IC有不同的值)時,其“CO"腳將由高電壓轉變為零電壓,使V2由導通轉為關斷,從而切斷了充電回路,使充電器無法再對電池進行充電,起到過充電保護作用。而此時由于V2自帶的體二極管VD2的存在,電池可以通過該二極管對外部負載進行放電

在控制IC檢(jian)測(ce)到(dao)電池電壓超(chao)過4.28V至發出關斷V2信號之(zhi)間,還(huan)有(you)一段延(yan)時時間,該延(yan)時時間的長(chang)短由(you)C3決定(ding),通常設為1秒左右(you),以避(bi)免因干擾(rao)而(er)造成(cheng)誤判斷。

3、過放電保護

電(dian)(dian)池(chi)在對(dui)外部負載放(fang)(fang)電(dian)(dian)過程(cheng)中,其(qi)電(dian)(dian)壓(ya)會隨著放(fang)(fang)電(dian)(dian)過程(cheng)逐漸降低,當(dang)電(dian)(dian)池(chi)電(dian)(dian)壓(ya)降至2.5V時,其(qi)容(rong)量已被完全放(fang)(fang)光,此時如果(guo)讓電(dian)(dian)池(chi)繼(ji)續對(dui)負載放(fang)(fang)電(dian)(dian),將造成電(dian)(dian)池(chi)的永久性損壞。

電池放電過程中,當控制IC檢測到電池電壓低于2.3V(該值由控制IC決定,不同的IC有不同的值)時,其“DO"腳將由高電壓轉變為零電壓,使V1由導通轉為關斷,從而切斷了放電回路,使電池無法再對負載進行放電,起到過放電保護作用。而此時由于V1自帶的體二極管VD1的存在,充電器可以通過該二極管對電池進行充電。

由于(yu)在過放電(dian)保(bao)護狀(zhuang)態下電(dian)池電(dian)壓不能再(zai)降低,因(yin)此要求保(bao)護電(dian)路(lu)的消耗(hao)電(dian)流(liu)極小,此時控制IC會進入低功耗(hao)狀(zhuang)態,整(zheng)個保(bao)護電(dian)路(lu)耗(hao)電(dian)會小于(yu)0.1μA。

在控制(zhi)IC檢測(ce)到電池電壓低于2.3V至發出關(guan)斷(duan)V1信(xin)號之間(jian),也有一段(duan)延時(shi)時(shi)間(jian),該(gai)延時(shi)時(shi)間(jian)的長短由C3決定,通常(chang)設為100毫秒左右,以避(bi)免因(yin)干擾而造成誤判斷(duan)。

4、過電(dian)流保護

由(you)于鋰離子電池(chi)(chi)的(de)化(hua)學(xue)特性(xing),電池(chi)(chi)生產廠家規(gui)定了其(qi)放電電流最(zui)大(da)不能超過2C(C=電池(chi)(chi)容量/小時),當電池(chi)(chi)超過2C電流放電時,將會導致電池(chi)(chi)的(de)永久性(xing)損壞(huai)或出現(xian)安全問題。

電(dian)(dian)(dian)池在對負(fu)載正常放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)過(guo)程中(zhong),放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)在經過(guo)串聯的(de)2個(ge)MOSFET時,由(you)于MOSFET的(de)導通(tong)阻抗,會在其兩端產生一(yi)個(ge)電(dian)(dian)(dian)壓(ya),該(gai)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)值(zhi)U=I*RDS*2, RDS為(wei)單個(ge)MOSFET導通(tong)阻抗,控(kong)(kong)制IC上(shang)的(de)“V-"腳對該(gai)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)值(zhi)進(jin)行檢測,若負(fu)載因(yin)(yin)某種原因(yin)(yin)導致異常,使回路(lu)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)增大(da),當(dang)回路(lu)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)大(da)到(dao)使U>0.1V(該(gai)值(zhi)由(you)控(kong)(kong)制IC決(jue)定(ding),不同(tong)的(de)IC有不同(tong)的(de)值(zhi))時,其“DO"腳將由(you)高(gao)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)轉變為(wei)零電(dian)(dian)(dian)壓(ya),使V1由(you)導通(tong)轉為(wei)關斷(duan),從而切(qie)斷(duan)了放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)回路(lu),使回路(lu)中(zhong)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)為(wei)零,起(qi)到(dao)過(guo)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)保(bao)護作用。

在控制IC檢(jian)測到過電流發生至發出關斷(duan)V1信號之間,也有一段延(yan)(yan)時(shi)時(shi)間,該延(yan)(yan)時(shi)時(shi)間的長短由(you)C3決定,通常為13毫秒左右(you),以避免因干擾而造成(cheng)誤判斷(duan)。

在(zai)上(shang)述控(kong)(kong)制過(guo)程中可知,其過(guo)電(dian)流(liu)(liu)檢測值大(da)小不僅取(qu)決(jue)(jue)于控(kong)(kong)制IC的控(kong)(kong)制值,還取(qu)決(jue)(jue)于MOSFET的導(dao)通(tong)阻(zu)抗,當MOSFET導(dao)通(tong)阻(zu)抗越大(da)時,對同樣(yang)的控(kong)(kong)制IC,其過(guo)電(dian)流(liu)(liu)保(bao)護值越小。

5、短路(lu)保(bao)護

電(dian)池在對負載放電(dian)過程(cheng)中,若回(hui)路(lu)電(dian)流(liu)大(da)到(dao)使(shi)U>0.9V(該值(zhi)由控(kong)制IC決定(ding),不同(tong)的IC有不同(tong)的值(zhi))時(shi),控(kong)制IC則(ze)判斷(duan)為負載短(duan)路(lu),其“DO"腳(jiao)將迅速由高(gao)電(dian)壓轉變為零電(dian)壓,使(shi)V1由導通轉為關(guan)斷(duan),從而切斷(duan)放電(dian)回(hui)路(lu),起到(dao)短(duan)路(lu)保護(hu)作(zuo)用。短(duan)路(lu)保護(hu)的延時(shi)時(shi)間極短(duan),通常小于7微秒。其工(gong)作(zuo)原理與過電(dian)流(liu)保護(hu)類似,只是(shi)判斷(duan)方法不同(tong),保護(hu)延時(shi)時(shi)間也不一樣。

以上詳細闡述了單節鋰離子電池保護電路的工作原理,多節串聯鋰離子電池的保護原理與之類似,在此不再贅述,上面電路中所用的控制IC為日本理光公司的R5421系列,在實際的電池保護電路中,還有許多其它類型的控制IC,如日本精工的S-8241系列、日本MITSUMI的MM3061系列、臺灣富晶的FS312和FS313系列、臺灣類比科技的AAT8632系列等等,其工作原理大同小異,只是在具體參數上有所差別,有些控制IC為了節省外圍電路,將濾波電容和延時電容做到了芯片內部,其外圍電路可以很少,如日本精工的S-8241系列。 除了控制IC外,電路中還有一個重要元件,就是MOSFET,它在電路中起著開關的作用,由于它直接串接在電池與外部負載之間,因此它的導通阻抗對電池的性能有影響,當選用的MOSFET較好時,其導通阻抗很小,電池包的內阻就小,帶載能力也強,在放電時其消耗的電能也少。

隨著科技的(de)(de)(de)發展,便攜(xie)式設備的(de)(de)(de)體積(ji)(ji)越(yue)做(zuo)越(yue)小,而隨著這(zhe)種(zhong)趨勢,對鋰離子電(dian)池的(de)(de)(de)保(bao)護電(dian)路體積(ji)(ji)的(de)(de)(de)要求也越(yue)來越(yue)小,在這(zhe)兩年已出(chu)現了將控制IC和MOSFET整(zheng)合成一(yi)顆(ke)保(bao)護IC的(de)(de)(de)產(chan)品,如DIALOG公司(si)的(de)(de)(de)DA7112系(xi)列,有的(de)(de)(de)廠家甚至(zhi)將整(zheng)個保(bao)護電(dian)路封裝成一(yi)顆(ke)小尺寸(cun)的(de)(de)(de)IC,如MITSUMI公司(si)的(de)(de)(de)產(chan)品。

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